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佰维存储:公司自主研发的测试设备已对内赋能公司自有产线的测试环节

  证券日报网讯 3月18日,佰维存储在互动平台回答投资者提问时表示,公司在NANDFlash及DRAM存储芯片领域的ATE测试、Burn-in(老化)测试、SLT(系统级)测试等多个环节,拥有从测试设备硬件开发、测试算法开发以及测试自动化软件平台开发的全栈测试开发能力。公司自主研发的测试设备已对内赋能公司自有产线的测试环节,并积极对外开拓市场。

(文章来源:证券日报)

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